Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

Warsito

" Artikel ini menunjukkan sebuah metode untuk memahami sistem pencitraan OBIV (optical beam induced voltage) yang biasanya menggunakan sistem laser scanning microscopy. Sistem pencitraan OBIV ini memanfaatkan sensor fotoresistor sebagai sampel uji yang sekaligus dapat digunakan untuk menganalisis homogenitas tanggapannya. Resolusi dari sistem pencitraan ini masih terlalu rendah yaitu sekitar 350µm disebabkan oleh besarnya diameter cahaya jatuh. Hasil pencitraan OBIV menginformasikan bahwa fotoresistor memberikan tanggapan optimal ketika cahaya jatuh pada bagian tengah permukaannya.

---

Study of 2D and ... "

Depok: Lembaga Penelitian Universitas Indonesia, 2005

AJ-Pdf

Artikel Jurnal  Universitas Indonesia Library

• Cari yang mirip
• Tambahkan ke Favorit
• Metadata PDF
• Abstrak PDF
• Abstrak