Ditemukan 188 dokumen yang sesuai dengan query
Boston: McGraw-Hill, 2004
618.97 CUR
Buku Teks Universitas Indonesia Library
Nainggolan, Margery Martin Oppo
"
Seiring berjalannya waktu, teknologi berkembang pesat, dan dengan demikian, masyarakat secara bertahap menjadi lebih bergantung pada teknologi. Oleh karena itu, tidak dapat dihindari bahwa timbulan limbah elektronik berlebih dari gadget, seperti smartphone, akan meningkat secara eksponensial. Tak lama, itu akan mencapai titik di mana sampah menjadi sangat berlebihan sehingga mengklasifikasikan, apalagi mendaur ulang, akan menjadi tugas yang sangat melelahkan. Pemisah Arus Eddy adalah alat yang khusus diciptakan untuk memisahkan sampah elektronik dari segi komposisi persentasenya. ...
"
Depok: Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 2022
T-pdf
UI - Tesis Membership Universitas Indonesia Library
Aditya Dhanwantara
"
Penulisan materi ini dilakukan dengan tujuan untuk menguji pengaruh nilai tukar rupiah, produk domestik bruto, pengeluaran pemerintah, investasi dan jumlah uang beredar baik dalam jangka pendek maupun dalam jangka panjang dan meramalkan pengaruh perubahan variabel makro terpilih terhadap transaksi berjalan.
Dalam penelitian ini akan diterapkan model regresi dinamik Error Correction Model (ECM). Model ECM dipandang sebagai salah satu model dinamik yang banyak diterapkan dalam studi empiris, terutama sejak kegagalan Partial Adjusment Model (PAM) dalam tahun 1970-an ...
"
Depok: Fakultas Ekonomi dan Bisnis Universitas Indonesia, 2006
T17146
UI - Tesis Membership Universitas Indonesia Library
Iskandar Ridwan
Depok: Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam Universitas Indonesia, 2002
T40007
UI - Tesis Membership Universitas Indonesia Library
Budi Harsono
Depok: Fakultas Ekonomi dan Bisnis Universitas Indonesia, 1981
S16626
UI - Skripsi Membership Universitas Indonesia Library
Kasiki Winata
Depok: Fakultas Ekonomi dan Bisnis Universitas Indonesia, 1982
S16756
UI - Skripsi Membership Universitas Indonesia Library
"
Stress Induced Leakage C urren! (SILC) telah menjadi suatu fenomena tersendiri dalam perkembangan divais MOSFET. SILC yang lbih dikenal dengan nama arus bocor ini, hadir setting dengan berkembangnya teknologi mikron dalam sebuah divais MOSFET. Berbagai penelitian telah dilakukan demi memperoleh suatu pengertian baku yang mampu menjelaskan keseluruhan fenomena SILC ini, Diharapkan dari pengetahuan dan penelitian yang ada, arus SILC dapat diatasi, walaupun sebenarnya hal ini masih menjadi tanda tanya besar. Sejauh ini SI]_.C dqelaskan dalam ...
"
Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 2002
S39826
UI - Skripsi Membership Universitas Indonesia Library
New York: Lange Medical Books/McGraw-Hill, 2006
616.047 2 CUR
Buku Teks Universitas Indonesia Library
Myatt, L.J.
Oxford : Pergamon Press, 1968
621.381 MYA s (1)
Buku Teks Universitas Indonesia Library
Andhika Yuriantoro
Depok: Fakultas Ilmu Administrasi Universitas Indonesia, 2009
S5161
UI - Skripsi Open Universitas Indonesia Library